產品概述

     3215貼片無源晶振測試而設計在當今的高科技產業(yè)中，貼片晶振作為關鍵的頻率源，其性能的穩(wěn)定性與可靠性對于各類電子產品來說至關重要。為了滿足這一需求，我們的公司特別推出了一款專為貼片3215晶振測試而設計的CX-118A型貼片晶振測試儀

3215型晶振測試儀是由我司按照IEC-444標準自主研發(fā)設計生產的一款多功能晶振測試系統(tǒng)，該晶振測試儀主要測試貼片3215貼片無源晶振，負載電容在5P～20P范圍內任意可調，主機內部時基標配高精度OCXO恒溫晶振。

該晶振為無源晶振測試，涵蓋大多數電子產品晶體測試，廣泛應用于郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業(yè)對于晶振的驗證或篩選。


產品功能

1) PPM測量，上下限測量；

2) 頻率測量范圍32.768KHz;

3) 頻率測量分辨率高達12位/s;

4) 多種晶振測試工裝，滿足常規(guī)測試應用。

產品特點

a) 高度集成，精度高；

b) 穩(wěn)定性好，性能可靠；

c) 操作簡單。

典型應用

1) 通信設備、汽車電子設備、醫(yī)療電子、安防電子、工業(yè)自動化設備等生產商，對于提供基準頻率的晶振進行驗證或篩選。

技術指標

二、主要技術指標： 
頻率測量范圍：32.768KHz 
頻率測量靈敏度：25mv 
PPm測量：10 Hz — 100 MHz 
PPm測量精度：≤1 PPm （1×10-6） 
（可擴展0.1PPm ， 0.01 PPm） 
中心頻率：0 Hz — 100 MHz任意設定 
誤差設置范圍設定： ± 1 — ± 999 PPm任意設定。 
閘門設置：四檔 ，0.01s、 0.1s、1s三檔固定， 
1檔閘門1ms — 10s可設， 
每1mS為一階梯任意設定。 
周期測量范圍：100 ms — 10 s 
時基頻率：10MC 
晶振穩(wěn)定性：5 ×10-7 / 日