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試具C與試具D探針的區(qū)別與應用

日期:2025-07-05 02:54
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摘要:試具C與試具D探針的區(qū)別與應用,符合IEC61032、IEC60529、GB4208、GB/T16842、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標準要求。主要用于防止手持工具觸及的防護檢驗。

試具C與試具D探針的區(qū)別與應用

一、試具C探針
產品概述:符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標準要求。
產品用途:用于防止手持工具觸及的防護檢驗。 

產品技術參數:

1、探棒長度:100mm

2、探棒直徑:2.5mm

3、檔球直徑:35mm

4、手柄直徑:10mm

5、手柄長度:100mm

6、根據IEC610323(Test probe C) 、GB/T4208-20176(第1位特征數字3)。

●制帶3±0.3N推力。


二、試具D探針
產品概述:符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標準要求。、
 產品用途:用于防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。 

產品主要技術參數:

1、探棒長度:100mm

2、探棒直徑:1mm

3、檔球直徑:35mm

4、手柄直徑:10mm

5、手柄長度:100mm

● 制帶1±0.1N推力。

試具C與試具D探針的使用方法:

試具C是IP3X防護等級試驗,主要用于低壓配電柜,燈具等產品的外殼防護等級試具,而試具D是IP4X外殼防護等級試驗,主要應用于高壓配電柜防護等級試驗。

粵公網安備 44030602001687號